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dc.contributor.advisorVeloso-Espinosa, Felipe
dc.creatorVescovi-Pinochet, Milenko Andrés
dc.date.accessioned2020-09-07T14:32:20Z
dc.date.available2020-09-07T14:32:20Z
dc.date.issued2020es_CL
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10533/246234
dc.description.abstractSe caracterizó espacial, temporal y espectralmente la emisión de rayos X proveniente de un X-pinch de 4 alambres de cobre de 25µm de diámetro en el generador Llampüdkeñ, con el n de evaluar su uso como backlighter para de ectometría moiré-Talbot Lau. Se midió una fuente central de 50 − 50µm, con emisión signi cativa en el rango < 5keV. Por medio de un espectrómetro especialmente diseñado y construido para este trabajo, se determinó que la radiación en esta región corresponde principalmente a emisión continua. La fuente central, asociada al hotspot, tiene una menor emisión en el rango cercano a 8keV, correspondiente a emisión satélite K de iones tipo Li. En este rango de energías y en rayos X duros, la emisión dominante proviene del plasma ∼ 300 − 400µm sobre la fuente central, hacia el ánodo. Desde esta región se detectaron fuentes de tamaño milimétrico, posteriores a la emisión central y asociadas a haces de electrones acelerados a través del gap formado tras la primera emisión. Se midió emisión cercana a 8 − 8.3keV proveniente de una región de tamaño extendido en el espectrómetro, además de un intenso continuo en energías > 9keV. Se usó un deflectómetro Talbot-Lau de orden 1, optimizado para 8keV a 5 − 6cm del plasma, con un objeto de fase de prueba (placa de Be). Usando el X-pinch como fuente se obtuvieron patrones de franjas que permitieron estimar la densidad de la placa con una diferencia porcentual menor al 13 %. Se observa un contraste disminuido en los patrones moiré (< 18 %), posiblemente asociado a la emisión en un amplio espectro proveniente de las fuentes de mayor tamaño en el X-pinch. Se observó depósito de material, ruptura y curvatura en los filtros protectores del deflectómetro, lo que en general no afectó la toma de datos. No se observan efectos de campo magnético ni temperatura que afecten la formación del patrón nal. Según los resultados, el X-pinch es una fuente útil para deflectometría Talbot-Lau en experimentos de potencia pulsada. Sin embargo es necesario optimizar el arreglo en cuanto a masa y material de los alambres, con el n de asegurar resoluciones temporales y espaciales apropiadas para este tipo de experimentos. Parte de los resultados de este trabajo se encuentra en proceso de publicación[1].es_CL
dc.description.abstractThe X-ray emission from copper x-pinches driven at Llampüdkeñ pulsed power generator was characterized in order to evaluate its use as an x-ray backlighter source for Talbot-Lau deflectometry. An x-ray source sizee of 50-150µm was measured at the center of the wire array, with significative emission in the energy rage of <5keV. Using an spectrometer spetially designed and built for this project, it was determined that the radiation in this spectral region corresponds mainly to continuum. Weaker emission was detected around 8keV, corresponding to K lines from Li-like Copper ions. Above these energies, the x-rays are emitted mainly from the anode oriented half of the wire array, with bigger source size (>750µm). A Talbot-Lau deflectometer-optimized to work with 8keV x-rays-was tested using the X-pinch as the backlighter and a solid Be sheet as test object. Moiré fringe patterns were succesfully obtained and the density of the test object was retrieved with a difference oes_CL
dc.relationinstname: Conicyt
dc.relationreponame: Repositorio Digital RI2.0
dc.relation.urihttps://repositorio.uc.cl/handle/11534/29303es_CL
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses_CL
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Chile*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/cl/*
dc.titleCaracterización de X-pinches de cobre y su aplicación como fuentes de rayos X para deflectometría Talbot-Laues_CL
dc.titleCharacterization of copper X-pinches and its application as an X-ray source for Talbot-Lau deflectometryes_CL
dc.contributor.institutionPONTIFICIA UNIVERSIDAD CATOLICA DE CHILEes_CL
dc.identifier.folio22181702es_CL
dc.country.isoChilees_CL
dc.relation.projectidinfo:eu-repo/grantAgreement//22181702es_CL
dc.relation.setinfo:eu-repo/semantics/dataset/hdl.handle.net/10533/93488
dc.rights.driverinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.type.driverinfo:eu-repo/semantics/masterThesises_CL
dc.type.tesisTesis
dc.subject.oecd1nCiencias Naturaleses_CL
dc.subject.oecd2nCiencias Físicases_CL
dc.subject.oecd3nFísica de Plasmas y Fluídoses_CL
dc.type.openaireinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion


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